サイリスタは半導体素子です3つ以上のpn接合と2つの安定状態を持つ半導体単結晶に基づいて作られています。低導電率状態。これは閉じた状態と呼ばれます。導電率の高い状態が開いています。
初心者のアマチュア無線家は質問をすることができます：「サイリスタはどのようにテストされますか？」この記事では、この半導体素子をテストするための手法を見ていきます。また、サイリスタをテストするために必要なデバイスの種類を分析します。
いくつかの検証方法があります半導体デバイス。サイリスタの予備チェックは、デジタルマルチメータ、テスター、またはオーム計を使用して実行できます。マルチメータはダイオードの「導通」モードでオンにし、テスターは抵抗測定モードでオンにする必要があります。これらのデバイスの助けを借りて、ゲートとカソードの間、およびアノードとカソードの間のサイリスタ遷移をチェックすることが可能です。ゲート電極とカソードの間の半導体素子の遷移の抵抗値は、50〜500オームである必要があります。この抵抗の値は、直接測定と逆測定の両方でほぼ同じです。抵抗値が高いほど、半導体サイリスタの感度が高くなります。言い換えると、デバイスが閉じた状態から開いた状態に移行するには、低いゲート電流が必要です。使用可能なサイリスタは、直接測定と逆測定の両方でアノード-カソード電極間の抵抗値を持ち、無限大になる傾向があります。
サイリスタの予備チェックにより、使用済みの半導体素子に焼損した陰極-陽極接合が含まれている可能性。測定器はそのような誤動作を判断することはできません。
メインサイリスタチェックは、追加の電源を使用します。この操作により、半導体デバイスの誤動作が完全に解消されます。短いパルスがカソード（エレメントを開くために必要な制御電極）を通過すると、サイリスタはオープン状態になります。このために、サイリスタをテストするための回路が組み立てられます。そのようなスキームはたくさんありますが、最も基本的なものを検討します。これを行うには、電源、インジケーターライト、2つのスイッチ、および抵抗を使用します。回路は、テストボード上に組み立てることも、表面実装することもできます。回路をまとめると、電源（5〜25 V）を差し引いたものがサイリスタのカソードに供給されます。通常は閉じているボタンK1を通り、インジケータランプを介してデバイスのアノードに至るソースのプラス。
